Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications (Hardcover)

Krzysztof Iniewski

ISBN 10: 3031756525 ISBN 13: 9783031756528
Editore: Springer International Publishing AG, Cham, 2025
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 12 ottobre 2005

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 121,73
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello