Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Libro 18 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle

Venditore con 4 stelle

Venditore AbeBooks dal 22 novembre 2018

Rilegato

Condizione: Nuovo

EUR 171,30

EUR 3,55 spedizione 
Spedito in U.S.A.

Quantità: 1 disponibile

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

pp. 352 2nd Edition.

Codice articolo 26282698

Titolo
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autore
Jose Pineda de Gyvez Manoj Sachdev
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2007
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
0387465464
ISBN 13
9780387465463
Edizione
seconda edizione
Serie
Libro 18 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Books Puddle

Woodside, NY, U.S.A.

Venditore con 4 stelle

Venditore AbeBooks dal 22 novembre 2018

Tariffe di spedizione nazionale per U.S.A.

ArticoloDa 12 a 19 giorni lavorativiDa 12 a 14 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 3,55EUR 6,21
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Descrizione dello Store

I mainly carry imported books from South East Asia / South Asia for readers of all Age Groups.

Specializzazione

South Asian and South East Asian Culture, Religion, Art etc

Informazioni sull’azienda del venditore

PLETOS INC

6931 51st Avenue, WOODSIDE
Woodside, NY U.S.A. 11377