Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures

Lingua: inglese

Editore: Elsevier Inc Jun 2018, 2018

0081020538 / 9780081020531

Serie: Libro 112 di 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures provides a comprehensive review on the recent progress in solving defect issues and deliberate defect engineering in novel material systems. It begins with an overview of point defects in ZnO and group-III nitrides, including irradiation-induced defects, and then look at defects in one and two-dimensional materials, including carbon nanotubes and graphene. Next, it examines the ways that defects can expand the potential applications of semiconductors, such as energy upconversion and quantum processing. The book concludes with a look at the latest advances in theory. While defect physics is extensively reviewed for conventional bulk semiconductors, the same is far from being true for novel material systems, such as low-dimensional 1D and 0D nanostructures and 2D monolayers. This book fills that necessary gap. 308 pp. Englisch.

Codice articolo 9780081020531

Titolo
Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures
Autore
Weimin Chen
Editore
Elsevier Inc Jun 2018
Anno di pubblicazione
2018
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
0081020538
ISBN 13
9780081020531
Peso dell'articolo
415 grammi
Dimensioni
229x152x17 mm
Serie
Libro 112 di 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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