Defects and Impurities in Silicon Materials. An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering.

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2016

4431557997 / 9784431557999

Serie: Libro 145 di 241 - Lecture Notes in Physics

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Titolo
Defects and Impurities in Silicon Materials. An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering.
Autore
Yoshida, Yutaka [Ed.] und Guido [Ed.] Langouche:
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2016
Condizione
Gut
Rilegatura
Softcover
Lingua
inglese
ISBN 10
4431557997
ISBN 13
9784431557999
Peso dell'articolo
1050 grammi
Serie
Libro 145 di 241: Lecture Notes in Physics
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