Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer, 1998

0792382951 / 9780792382959

Serie: Libro 31 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle

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pp. 212.

Codice articolo 26321097

Titolo
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Autore
Angela Krstic
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
1998
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
0792382951
ISBN 13
9780792382959
Serie
Libro 31 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Books Puddle

New York, NY, U.S.A.

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