Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability

Lingua: inglese

Editore: Chapman & Hall, 2004

1584884711 / 9781584884712

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Titolo
Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
Autore
LuValle, Michael J. (Author)/ LeFevre, Bruce G. (Author)/ Kannan, SirRaman (Author)
Editore
Chapman & Hall
Anno di pubblicazione
2004
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
1584884711
ISBN 13
9781584884712
Peso dell'articolo
0,48 chilogrammi

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