Design For Manufacturability And Yield For Nano-Scale Cmos. Questo articolo non è disponibile.
Lingua: inglese
Editore: Springer, 2007
- Rilegato
- Nuovo
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Codice articolo ABEOCT25-154388
- Titolo
- Design For Manufacturability And Yield For Nano-Scale Cmos
- Autore
- Chiang Charles Et.Al
- Editore
- Springer
- Anno di pubblicazione
- 2007
- Condizione
- Brand New
- Rilegatura
- Rilegato
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 1402051875
- ISBN 13
- 9781402051876
- Serie
- Libro 5 di 34: Integrated Circuits and Systems
This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.
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