Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

Mostafa, Hassan; Anis, Mohab; Elmasry, Mohamed

ISBN 10: 365951361X ISBN 13: 9783659513619
Editore: VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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