Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

Mostafa, Hassan; Anis, Mohab; Elmasry, Mohamed

ISBN 10: 365951361X ISBN 13: 9783659513619
Editore: VDM Verlag Dr. Mueller Aktiengesellschaft & Co. KG, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da Majestic Books, Hounslow, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 19 gennaio 2007

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Brossura

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 96,77
Spedizione EUR 7,60
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 4 disponibili

Aggiungere al carrello