Development of Methods for Characterisation of Roughness in Three Dimensions (Ultra Precision Technology Series)

Stout, Ken J, Blunt, Liam, Dong, W. P., Mainsah, E., Luo, N.

ISBN 10: 1857180232 ISBN 13: 9781857180237
Editore: Butterworth-Heinemann, 2002
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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