Developments in the Use of Failure Rate Data and Reliability Prediction Methods for Hardware

Lingua: inglese

Editore: Technis, 2000

0951656260 / 9780951656266

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Dati bibliografici

Titolo
Developments in the Use of Failure Rate Data and Reliability Prediction Methods for Hardware
Autore
Smith, David John
Editore
Technis
Anno di pubblicazione
2000
Condizione
Good
Rilegatura
Brossura
Lingua
inglese
ISBN 10
0951656260
ISBN 13
9780951656266

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