Digital Circuit Testing and Testability (The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design)

Lala, Parag K.

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Lingua: inglese

Editore: Academic Press, 1997

0124343309 / 9780124343306

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Titolo
Digital Circuit Testing and Testability (The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design)
Autore
Lala, Parag K.
Editore
Academic Press
Anno di pubblicazione
1997
Condizione
New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0124343309
ISBN 13
9780124343306

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