Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Lingua: inglese

Editore: Springer, 1993

0442006438 / 9780442006433

Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 6 gennaio 2003

Rilegato

Condizione: Nuovo

EUR 137,84

EUR 14,94 spedizione 
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 1 disponibile

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

9.50x6.25x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.

Codice articolo __0442006438

Titolo
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Autore
Hnatek, Eugene R. (Author)
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
1993
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0442006438
ISBN 13
9780442006433
Peso dell'articolo
1 chilogrammo

Revaluation Books

Exeter, Regno Unito

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 6 gennaio 2003

Tariffe di spedizione da Regno Unito a U.S.A.

ArticoloDa 7 a 14 giorni lavorativiDa 2 a 3 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 14,94EUR 35,85
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Informazioni sull’azienda del venditore

Edward Bowditch Ltd

Exstowe, Exton
Exeter, Regno Unito EX3 0PP