Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2018

331984041X / 9783319840413

Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.Books From California

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Titolo
Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Autore
Posser, Gracieli,Sapatnekar, Sachin S.,Reis, Ricardo
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2018
Condizione
Very Good
Rilegatura
paperback
Lingua
inglese
ISBN 10
331984041X
ISBN 13
9783319840413

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