Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Posser, Gracieli,Sapatnekar, Sachin S.,Reis, Ricardo

ISBN 10: 331984041X ISBN 13: 9783319840413
Editore: Springer, 2018
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Brossura

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