Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Lingua: inglese

Editore: Marcel Dekker Inc, 1991

0824785568 / 9780824785567

Serie: Libro 77 di 98 - Optical Science and Engineering

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Titolo
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Autore
Thompson, Brian J. (Series edited by)/ Murr, Lawrence E (Edited by)
Editore
Marcel Dekker Inc
Anno di pubblicazione
1991
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0824785568
ISBN 13
9780824785567
Edizione
seconda edizione
Peso dell'articolo
1,6 chilogrammi
Serie
Libro 77 di 98: Optical Science and Engineering

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Exeter, Regno Unito

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