Titolo: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Editore: Marcel Dekker Inc
Data di pubblicazione: 1991
Lingua: Inglese
ISBN 10: 0824785568
ISBN 13: 9780824785567
Rilegatura: Hardcover
Edizione: seconda edizione
Condizione: Brand New
Peso: 1,6 chilogrammi

Descrizione articolo

Riassunto

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

Informazioni sull?autore

Lawrence E. Murr

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Descrizione libreria

Visita la pagina della libreria

Informazioni sull?azienda del venditore

Edward Bowditch Ltd
Exstowe, Exton, Exeter, EX3 0PP, United Kingdom

Condizioni di vendita e spedizione

Condizioni di vendita

Legal entity name: Edward Bowditch Ltd
Legal entity form: Limited company
Business correspondence address: Exstowe, Exton, Exeter, EX3 0PP
Company registration number: 04916632
VAT registration: GB834241546
Authorised representative: Mr. E. Bowditch

Diritto di recesso

Condizioni di spedizione

Orders usually dispatched within two working days.

Tariffe di spedizione da Regno Unito a U.S.A.

Tariffe di spedizione da Regno Unito a U.S.A.
Quantit� dell?ordine	Da 7 a 18 giorni lavorativi	Da 2 a 5 giorni lavorativi
Primo articolo	EUR 28.63	EUR 28.63

I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.