Electron Nano-imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM

Lingua: inglese

Editore: Springer Japan, Springer Japan, 2024

4431569391 / 9784431569398

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In this second edition, most chapters of the first edition, which published in 2017, have been revised and recent advancement of electron microscopy such as differential phase contrast (DPC) STEM, sparse-coding image processing and quantum electron microscopy have been supplemented with further details. This book explains the basis of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) in the style of a textbook. The book focuses on the explanation of electron microscopic imaging of TEM and STEM without including in the main text distracting information on basic knowledge of crystal diffraction, wave optics, electron lens, and scattering and diffraction theories, which are explained separately in the appendices. The comprehensive explanation is provided on the basis of Fourier transform theory, and this approach is unique in comparison with other advanced resources on high-resolution electron microscopy. With the present textbook, readers are led to understand the essence of the imaging theories of TEM and STEM without being diverted by various kinds of knowledge around electron microscopy. The up-to-date information in this book, particularly on imaging details of STEM and aberration corrections, is valuable worldwide for today's graduate students and professionals just starting their careers.

Codice articolo 9784431569398

Titolo
Electron Nano-imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
Autore
Nobuo Tanaka
Editore
Springer Japan, Springer Japan
Anno di pubblicazione
2024
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
4431569391
ISBN 13
9784431569398
Edizione
seconda edizione
Peso dell'articolo
863 grammi
Dimensioni
241x160x27 mm

AHA-BUCH GmbH

Einbeck, Germania

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