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Dati bibliografici

Titolo: Electron and ion microscopy and microanalysis: Principles and applications (Optical engineering)
Editore: Marcel Dekker
Data di pubblicazione: 1982
Lingua: Inglese
ISBN 10: 0824715535
ISBN 13: 9780824715533
Rilegatura: hardcover
Condizione: Good

Descrizione libreria

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