Exponential Fatigue Life Model for Single-Edge-Notched Beams: An Analytical Approach to Structural Integrity and Fracture Behaviour

Lingua: inglese

Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2025

6209272835 / 9786209272837

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Titolo
Exponential Fatigue Life Model for Single-Edge-Notched Beams: An Analytical Approach to Structural Integrity and Fracture Behaviour
Autore
Baliarsingh, Avaya Kumar; Rath, Debabrata
Editore
LAP LAMBERT Academic Publishing
Anno di pubblicazione
2025
Condizione
New
Rilegatura
Brossura
Lingua
inglese
ISBN 10
6209272835
ISBN 13
9786209272837

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