Fatigue Testing and Analysis

Lee, Yung-Li/ Pan, Jwo/ Hathaway, Richard/ Barkey, Mark

ISBN 10: 1493302981 ISBN 13: 9781493302987
Editore: Butterworth-Heinemann, 2004
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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Nuovi - Brossura

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