Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice

Pan, Jwo, Lee, Yung-Li, Hathaway, Richard, Barkey, Mark

ISBN 10: 0750677198 ISBN 13: 9780750677196
Editore: Elsevier Science & Technology, 2004
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

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