Fayad, M: Software Patterns, Knowledge Maps, and Domain Anal

Mohamed E. Fayad (San José State University, Charles W. Davidson College of Engineering, Computer Engineering, California, USA)|Huascar A. Sanchez|Srikanth G.K. Hegde|Anshu Basia|Ashka Vakil

ISBN 10: 1138033731 ISBN 13: 9781138033733
Editore: CRC Press, 2017
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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