Ferroelectric-gate Field Effect Transistor Memories : Device Physics and Applications

Libro 30 di 37: Topics in Applied Physics

Park, Byung-eun (EDT); Ishiwara, Hiroshi (EDT); Okuyama, Masanori (EDT); Sakai, Shigeki (EDT); Yoon, Sung-min (EDT)

ISBN 10: 9811512140 ISBN 13: 9789811512148
Editore: Springer, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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