First Aid Clinical Pattern Recognition for the USMLE Step 1: The High-Yield Guide to Clinical Patterns for Exam Success

James H. Shawn

ISBN 10: 9371231882 ISBN 13: 9789371231886
Editore: Grapevine, 2025
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da California Books, Miami, FL, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 27 ottobre 2023

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 52,74
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello