Foundations of Measurement Vol. Questo articolo non è disponibile.
David H. Krantz; R. Duncan Luce; Patrick Suppes; Amos Tversky
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Lingua: inglese
Editore: Dover Publications, 2006
- Brossura
- Usato
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.World of Books (was SecondSale)
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- Titolo
- Foundations of Measurement Vol
- Autore
- David H. Krantz; R. Duncan Luce; Patrick Suppes; Amos Tversky
- Editore
- Dover Publications
- Anno di pubblicazione
- 2006
- Condizione
- Very Good
- Rilegatura
- Brossura
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 0486453146
- ISBN 13
- 9780486453149
All of the sciences — physical, biological, and social — have a need for quantitative measurement. This influential series, Foundations of Measurement, established the formal foundations for measurement, justifying the assignment of numbers to objects in terms of their structural correspondence.
Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance.
Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance.
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Informazioni sull’autore
David H. Krantz is affiliated with Columbia University; R. Duncan Luce with the University of California, Irvine; and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.
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