Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: v. 1173 (AIP Conference Proceedings)

ISBN 10: 0735407126 ISBN 13: 9780735407121
Editore: American Institute of Physics, 2009
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia

Venditore AbeBooks dal 13 dicembre 2023

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 101,08
Spedizione gratuita
Ships from Australia to U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello