Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)

Lingua: inglese

Editore: Springer, 1989

079239058X / 9780792390589

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Codice articolo 111E3-136B2-HC-079239058X-HC-1P2-W'89

Titolo
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Autore
Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
1989
Condizione
New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
079239058X
ISBN 13
9780792390589
Peso dell'articolo
1,2 libbre

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