High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Jon Orloff

ISBN 10: 1461352290 ISBN 13: 9781461352297
Editore: Springer US, Springer US, 2012
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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