High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Jon Orloff

ISBN 10: 030647350X ISBN 13: 9780306473500
Editore: Springer US, Humana, 2002
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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