High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials

Lingua: inglese

Editore: Springer, Springer Berlin Heidelberg Dez 2002, 2002

3540418180 / 9783540418184

Serie: Libro 60 di 233 - Springer Series in Materials Science

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Rilegato

Condizione: Nuovo

EUR 160,49

EUR 60,00 spedizione 
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 1 disponibile

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The characterisation of materials and material systems is an essential aspect of materials science. A few decades ago it became obvious that, because the properties of materials depend so critically on the microstructure of their components, this characterisation must be determined to the atomic level. This means that the position - as well as the nature - of individual atoms has to be determined at 'critical' regions close to defects such as dislocations, interfaces, and surfaces. The great impact of advanced transmission electron microscopy (TEM) techniques became apparent in the area of semiconducting materials, where the nature of internal interfaces between silicon and the corresponding silicides could be identified, and the results used to enhance the understanding of the properties of the compounds studied. At that time, advanced TEM techniques existed predominantly in the US. However, advanced TEM instrumentation was not available in the ma terials science and solid-state science communities in Germany. This gap was bridged by the late Peter Haasen who, after a visit to the US, initiated a Priority Programme on Microstructural Characterisation at the Volkswagen Foundation (Hannover). The programme was in effect from 1985 to 1997 and supported a wide range of research projects - from fundamental, trendy, innovative projects to projects in applied materials science.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 460 pp. Englisch.…

Codice articolo 9783540418184

Titolo
High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials
Autore
Manfred Rühle
Editore
Springer, Springer Berlin Heidelberg Dez 2002
Anno di pubblicazione
2002
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
3540418180
ISBN 13
9783540418184
Peso dell'articolo
936 grammi
Dimensioni
241x160x33 mm
Serie
Libro 60 di 233: Springer Series in Materials Science

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Germania

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Tariffe di spedizione da Germania a U.S.A.

ArticoloDa 60 a 60 giorni lavorativiDa 60 a 60 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 60,00EUR 75,00
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • PayPal

Descrizione dello Store

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Specializzazione

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Informazioni sull’azienda del venditore

buchversandmimpf2000

Germania

Impressum

Gesetzliche Anbieterkennung:

Thorsten Retsch
Buchversand Mimpf2000
Oberölschnitz 16
95517 Emtmannsberg
Deutschland
Telefon: 092092023188
E-Mail: order@buchversandmimpf2000.de
USt-IdNr.: DE 235096871

Alternative Streitbeilegung:
Die Europäische Kommission stellt eine Plattform für die außergerichtliche Online-Streitbeilegung (OS-Plattform) bereit, aufrufbar unter http://ec.europa.eu/odr.