High Resolution X-Ray Diffraction and Topography

Bowen, D. Keith; Tanner, Brian K.

ISBN 10: 0850667585 ISBN 13: 9780850667585
Editore: CRC Press, 1998
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Rilegato

Venduto da GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 28 gennaio 2020

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo:
EUR 290,28
Spedizione EUR 17,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello