High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography

Lingua: inglese

Editore: CRC Press, 1998

0850667585 / 9780850667585

Da: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, U.S.A.Mahler Books

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Gift inscription by Author to fly leaf. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Inside pages are clean. ; 24.6 X 17.4 X 1.56 centimeters; 264 pages.

Codice articolo 06SA24-659-209

Titolo
High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
Autore
Bowen, D. K. & Brian K. Tanner
Editore
CRC Press
Anno di pubblicazione
1998
Condizione
Very Good
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0850667585
ISBN 13
9780850667585
Peso dell'articolo
1 libbra

Mahler Books

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