High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures

Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav; Baumbach, Tilo

ISBN 10: 1475740514 ISBN 13: 9781475740516
Editore: Springer, 2012
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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