High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip

Lingua: inglese

Editore: Springer Nature Singapore Jul 2017, 2017

9811010722 / 9789811010729

Serie: Libro 2 di 13 - Computer Architecture and Design Methodologies

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures. 220 pp. Englisch.

Codice articolo 9789811010729

Titolo
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Autore
Anupam Chattopadhyay
Editore
Springer Nature Singapore Jul 2017
Anno di pubblicazione
2017
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
9811010722
ISBN 13
9789811010729
Peso dell'articolo
500 grammi
Dimensioni
241x160x18 mm
Serie
Libro 2 di 13: Computer Architecture and Design Methodologies

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

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