High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures

Pietsch, Ullrich/ Holy, Vaclav/ Baumbach, Tilo

ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Editore: Springer Verlag, 2011
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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