Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer US, 1993

079239352X / 9780792393528

Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

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As the complexity and the density of VLSI chips increase with shrinking design rules, the evaluation of long-term reliability of MOS VLSI circuits is becoming an important problem. The assessment and improvement of reliability on the circuit level should be.

Codice articolo 5971429

Titolo
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Autore
Yusuf Leblebici|Sung-Mo (Steve) Kang
Editore
Springer US
Anno di pubblicazione
1993
Condizione
New
Rilegatura
Gebunden
Lingua
inglese
ISBN 10
079239352X
ISBN 13
9780792393528

moluna

Greven, Germania

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