Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer US, 2012

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. As the complexity and the density of VLSI chips increase with shrinking design rules, the evaluation of long-term reliability of MOS VLSI circuits is becoming an important problem. The assessment and improvement of reliability on the circuit level should be.

Codice articolo 4194615

Titolo
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Autore
Yusuf Leblebici|Sung-Mo (Steve) Kang
Editore
Springer US
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
New
Rilegatura
Brossura
Lingua
inglese
ISBN 10
1461364299
ISBN 13
9781461364290

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Greven, Germania

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