IEEE Guide to the Use of ATLAS (Abbreviated Test Language for All Systems)

Lingua: inglese

Editore: The Institute of Electrical and Electronics Engineering, 1984

0471827460 / 9780471827467

Venditore Heritage

Da: Callaghan Books South, New Port Richey, FL, U.S.A.Callaghan Books South

Venditore con 4 stelle

Venditore AbeBooks dal 8 gennaio 1999

Visualizza gli articoli di questo venditore
Rilegato

Condizione: Usato - Ottimo

EUR 49,77

EUR 11,42 spedizione 
Spedito in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

Large, heavy book, 207 pages plus 112 pages of appendixes. DJ and book, both Very Fine.

Codice articolo 11493

Titolo
IEEE Guide to the Use of ATLAS (Abbreviated Test Language for All Systems)
Autore
Beall, James H., Chairman
Editore
The Institute of Electrical and Electronics Engineering
Anno di pubblicazione
1984
Condizione
Fine
Sovraccoperta
Very Fine
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0471827460
ISBN 13
9780471827467
Cataloghi dei venditori
Technology

Callaghan Books South

New Port Richey, FL, U.S.A.

Venditore con 4 stelle

Venditore AbeBooks dal 8 gennaio 1999

Tariffe di spedizione nazionale per U.S.A.

ArticoloDa 5 a 14 giorni lavorativiDa 3 a 6 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 11,42EUR 14,06
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • Vaglia postale

Descrizione dello Store

Selling by mail order directly to customers, bookdealers and collectors from an inventory of more than 40,000 books, strong in literature, history, Native American and Vietnam Conflict. All defects seen are stated: a microtear or micronick is a defect smaller than 1/16 of an inch, but visible.

Specializzazione

Poetry, Literary Criticism, Vietnam Conflict, Native American, Books in Danish

Informazioni sull’azienda del venditore

Callaghan Books South

FL, U.S.A.