Identification Of Structural Damage Location Using Impedance Sensors: Validation Of Wireless Sensor System

Hui, Liu; Yaowen, Yang; Annamdas, Venu Gopal Madhav; Hui, Liu; Yaowen, Yang; Annamdas, Venu Gopal Madhav

ISBN 10: 3846593621 ISBN 13: 9783846593622
Editore: Lap Lambert Academic Publishing, 2011
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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