Improving Reliability of Tungsten Plug Via on an Integrated Circuitry: Process Flow in BiCMOS and CMOS technology with Failure Analysis,Design of Experiments,Statistical Analysis & Wafer Maps

Mulay, Apek

ISBN 10: 3659947482 ISBN 13: 9783659947483
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2016
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania

Venditore AbeBooks dal 10 settembre 2024

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Brossura

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 104,33
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 4 disponibili

Aggiungere al carrello