Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach (Microsystems)

Laurila, Tomi, Vuorinen, Vesa, Paulasto-Kröckel, Mervi, Turu

ISBN 10: 1447124693 ISBN 13: 9781447124696
Editore: Springer, 2012
Lingua: Inglese
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