Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Lingua: inglese

Editore: Wiley-VCH GmbH, 2022

3527349510 / 9783527349517

Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

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Andrew T. S. Wee is a class of 62 Professor of Physics, and Director of the Surface Science Laboratory at the National University of Singapore (NUS). His research interests are in surface and nanoscale science, scanning tunnelling microscopy (STM) and synch.

Codice articolo 529136463

Titolo
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Autore
Andrew T. S. Wee|Xinmao Yin|Chi Sin Tang
Editore
Wiley-VCH GmbH
Anno di pubblicazione
2022
Condizione
New
Rilegatura
Brossura
Lingua
inglese
ISBN 10
3527349510
ISBN 13
9783527349517
Cataloghi dei venditori
Mathematik/Naturwissenschaften/Technik/Medizin

moluna

Greven, Germania

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