Investigation of Radiation Effects on Semiconductor Devices and Integrated Circuits; DNA-TR-88-2

Shanfield, Zef and, Srour, Joseph R., Moriwaki, Melvin and, Kerry, S. and Hartmann, Robert

Editore: Northrop Corporation, Palos Verdes Peninsula, CA, 1988
Condizione: Usato - Buono

Venduto da Ground Zero Books, Ltd., Silver Spring, MD, U.S.A.

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