Ion beam surface layer analysis;: Proceedings of the International Conference held on June 18-20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y., and sponsored by . Science Foundation and the IBM Corporation. Questo articolo non è disponibile.

Name: Ion beam surface layer analysis;: Proceedings of the International Conference held on June 18-20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y., and sponsored by . Science Foundation and the IBM Corporation
Author: Mayer, James W., and James F. Ziegler
ISBN: 9780444195364

Mayer, James W., and James F. Ziegler

Lingua: inglese

Editore: Elsevier Sequoia S. A., 1974

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Dati bibliografici

Titolo: Ion beam surface layer analysis;: Proceedings of the International Conference held on June 18-20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y., and sponsored by . Science Foundation and the IBM Corporation
Autore: Mayer, James W., and James F. Ziegler
Editore: Elsevier Sequoia S. A.
Anno di pubblicazione: 1974
Condizione: Good
Sovraccoperta: sovraccoperta
Tipo di libro: book
Rilegatura: hardcover
Lingua: inglese
ISBN 10: 044419536X
ISBN 13: 9780444195364

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