Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization: 65 (Springer Series in Surface Sciences)

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2018

3319756869 / 9783319756868

Serie: Libro 24 di 30 - Springer Series in Surface Sciences

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1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.

Codice articolo 26376476915

Titolo
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization: 65 (Springer Series in Surface Sciences)
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2018
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
3319756869
ISBN 13
9783319756868
Serie
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface Sciences

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