Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2005

3540253033 / 9783540253037

Serie: Libro 3 di 233 - Springer Series in Materials Science

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Codice articolo Q-3540253033

Titolo
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Autore
Rein, Stefan
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2005
Condizione
New
Rilegatura
hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
3540253033
ISBN 13
9783540253037
Peso dell'articolo
37 once
Dimensioni
6x1x9
Serie
Libro 3 di 233: Springer Series in Materials Science

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