Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)

Lingua: inglese

Editore: Springer Verlag, 2005

3540253033 / 9783540253037

Serie: Libro 3 di 233 - Springer Series in Materials Science

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Titolo
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science)
Autore
Stefan Rein
Editore
Springer Verlag
Anno di pubblicazione
2005
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
3540253033
ISBN 13
9783540253037
Peso dell'articolo
0,86 chilogrammi
Serie
Libro 3 di 233: Springer Series in Materials Science

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