Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)

Langenkamp, Martin,Breitenstein, Otwin,Warta, Wilhelm

ISBN 10: 3540434399 ISBN 13: 9783540434399
Editore: Springer, 2003
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Buono Rilegato

Venduto da HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 11 marzo 2019

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Buono

Prezzo:
EUR 146,90
EUR 3,24 per la spedizione in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello