MATERIALS RELIABILITY IN MICROELECTRONICS III

KENNETH P. RODBELL, IBM T J WATSON RESEARCH CENTER, NEW YORKWILLIAM F. FILTER, SANDIA NATIONAL LABORATORIES, ALBUQUERQUE, NEW MEXICOHAROLD J. FROST, DARTMOUTH COLLEGE, NEW HAMPSHIREPAUL S. HO, UNIVERSITY OF TEXAS, AUSTIN

ISBN 10: 1558992057 ISBN 13: 9781558992054
Editore: Cambridge University Press, 1993
Lingua: Inglese
Nuovi Condizione: Brand New Rilegato

Da Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Venditore AbeBooks dal 24 giugno 2016

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Prezzo: EUR 34,05 Convertire valuta
Gratis per la spedizione da U.S.A. a Italia Destinazione, tempi e costi

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello