Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems

[edited by] Bruno Ciciani

ISBN 10: 0818662921 ISBN 13: 9780818662928
Editore: IEEE Computer Society Press c1995., Los Alamitos, Calif., 1995
Lingua: Inglese
Usato Condizione: Good Brossura

Da Treehorn Books, Santa Rosa, CA, U.S.A.

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