Martin, K: Digital Integrated Circuit Design

Name: Martin, K: Digital Integrated Circuit Design
Rating: 3.91 (47 reviews)
Author: Martin, Ken (Stanley Ho Professor of Microelectronics in Electrical and Computer Engineering, Stanley Ho Professor of Microelectronics in Electrical and Computer Engineering, University of Toronto)
ISBN: 9780195125849

Martin, Ken (Stanley Ho Professor of Microelectronics in Electrical and Computer Engineering, Stanley Ho Professor of Microelectronics in Electrical and Computer Engineering, University of Toronto)

47 valutazioni di Goodreads

Lingua: inglese

Editore: Oxford University Press, 1999

0195125843 / 9780195125849

Serie: Libro 6 di 23 - The Oxford Series in Electrical and Computer Engineering

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This textbook is intended to teach the student the basic principles for designing high performance digital integrated circuits. It emphasizes transistor level design, but includes chapters on processing, modelling and system level aspects as well.Kl.

Codice articolo 594392512

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Titolo: Martin, K: Digital Integrated Circuit Design
Autore: Martin, Ken (Stanley Ho Professor of Microelectronics in Electrical and Computer Engineering, Stanley Ho Professor of Microelectronics in Electrical and Computer Engineering, University of Toronto)
Editore: Oxford University Press
Anno di pubblicazione: 1999
Condizione: New
Rilegatura: Gebunden
Lingua: inglese
ISBN 10: 0195125843
ISBN 13: 9780195125849
Serie: Libro 6 di 23: The Oxford Series in Electrical and Computer Engineering

Contenuti

Preface
1. THE BASICS
1.1: Simple NMOS Logic Gates
1.2: Simple CMOS Logic Gates
1.3: Computer Simulation
1.4: Transfer Curves and Noise Margins
1.5: Gate Delays and Rise and Fall Times
1.6: Transient Response
1.7: An RC Approximation to the Transient Response of a CMOS Inverter
1.8: Summary
1.9: Bibliography
1.10: Problems
2. PROCESSING, LAYOUT, AND RELATED ISSUES
2.1: CMOS Processing
2.2: Bipolar Processing
2.3: CMOS Layout and Design Rules
2.4: Advanced CMOS Processing
2.5: Bibliography
2.6: Problems
3. INTEGRATED-CIRCUIT DEVICES AND MODELING
3.1: Simplified Transistor Modeling
3.2: Semiconductors and pn Junctions
3.3: MOS Transistors
3.4: Advanced MOS Modeling
3.5: Bipolar-Junction Transistors
3.6: SPICE-Modeling Parameters
3.7: Appendix
3.8: SPICE Simulations
4. TRADITIONAL MOS DESIGN
4.1: Pseudo-NMOS Logic
4.2: Pseudo-NMOS Logic Gates
4.3: Transistor Equivalency
4.4: CMOS Logic
4.5: CMOS Gate Design
4.6: SPICE Simulations
4.7: Bibliography
4.8: Problems
5. TRANSMISSION-GATE AND FULLY DIFFERENTIAL CMOS LOGIC
5.1: Transmission-Gate Logic Design
5.2: Differential CMOS Circuits
5.3: Bibliography
5.4: Problems
6. CMOS TIMING AND I/O CONSIDERATIONS
6.1: Delay of MOS Circuits
6.2: Input/Output Circuits
6.3: Bibliography
6.4: Problems
7. LATCHES, FLIP-FLOPS, AND SYNCHRONOUS SYSTEM DESIGN
7.1: CMOS Clocked Latches
7.2: Flip-flops
7.3: CMOS Flip-flops
7.4: Synchronous System Design Techniques
7.5: Synchronous System Examples
7.6: Bibliography
7.7: Problems
8. BIPOLAR AND BiCMOS LOGIC GATES
8.1: Emitted-Coupled Logic Gates
8.2: Current-Mode Logic
8.3: BiCMOS
8.4: SPICE Simulations
8.5: Bibliography
8.6: Problems
9. ADVANCED CMOS LOGIC DESIGN
9.1: Pseudo-NMOS and Dynamic Precharging
9.2: Domino-CMOS Logic
9.3: No-Race-Logic
9.4: Single-Phase Dynamic Logic
9.5: Differential CMOS
9.6: Dynamic Differential Logic
9.7: Bibliography
9.8: Problems
10. DIGITAL INTEGRATED SYSTEM BUILDING BLOCKS
10.1: Multiplexors and Decoders
10.2: Barrel Shifters
10.3: Counters
10.4: Digital Adders
10.5: Digital Multipliers
10.6: Programmable Logic Arrays
10.7: Bibliography
10.8: Problems
11. INTEGRATED MEMORIES
11.1: Static Random-Access Memories
11.2: Static Random-Access Memory Storage Cells
11.3: Address Buffers and Decoders
11.4: Dynamic Bus Precharge and Address-Transition-Detect Circuits
11.5: Modifications for Large Static Random-Access Memories
11.6: Dynamic Random-Access Memories
11.7: Read-Only Memories
11.8: Bibliography
11.9: Problems
12. GaAs DIGITAL CIRCUITS
12.1: Introduction
12.2: GaAs Processing and Components
12.3: MESFET Modeling
12.4: MESFET Second-Order Effects
12.5: Logic Design with MESFETs
12.6: Capacitively Enhanced Logic
12.7: GaAs Logic Family Comparison
12.8: Heterojunction Bipolar Technology
12.9: Bibliography
12.10: Problems
13. DIGITAL SYSTEM TESTING
13.1: Conservative Design Principles
13.2: Scan-Design Techniques
13.3: Localized Test-Vector Generation and Test-Output Compression Techniques
13.4: Boundary-Scan Testing
13.5: Bibliography
13.6: Problems

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